超細粉體的粒度如何分析

篩分分析方法*簡單的也是應用*早的粒度分析方法是篩分法。但是，由于現今的標準篩*細一般只到400目，因此，對于小于10μm的超細粉體來說，不可能用標準篩進行粒度分析和檢測。雖然新發展的電沉積篩網可以篩分小至5μm的粉體物料，但這種篩分技術由于篩分時間長和經常發生堵塞，很少在分析中使用。篩分分析是利用篩孔大小不同的一套篩子進行粒度分級。對于粒度小于100mm而大于0.038mm的松散物料，一般用篩分法測定其粒度組成和粒度分布。

  篩分分析采用的套篩一般有兩種：一種為非標準篩，實驗室可以自己制造，用于篩分粗粒物料。篩孔大小一般為150，120，100，80，70，50，25，15，12，6，3，2，1(mm)等，根據需要確定。另一種為標準套篩，用于篩分細度物料，標準套篩是由一套篩孔大小有一定比例的、篩孔寬度和篩絲直徑都是按標準制造的篩子組。上層篩子的篩孔大，下層篩子的篩孔小，另外還有一個上蓋(防止試樣在篩分的過程中損失)和篩底(用來直接接取*層篩子的篩下產物)。

  將標準篩按篩孔由大到小，從上到下排列起來，各個篩子所處的層位叫篩序；在疊好的篩序中，每兩個相鄰的篩孔尺寸之比叫篩比。有些標準篩有一個作為基準的篩子叫基篩，如泰勒標準篩以200目篩子作為基篩